

隆安
2025-11-12 08:59:52
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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高溫堆碼試驗(yàn)箱主要用于驗(yàn)證包裝材料(如紙箱、塑料托盤)或電子元器件在高溫環(huán)境下的抗壓變形、蠕變及老化性能。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括:
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 重要性 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 可調(diào)最高溫度 | 室溫~150℃ | 決定測(cè)試上限 |
| 負(fù)載壓力 | 堆碼層施加壓力 | 0~500kg | 匹配實(shí)際堆碼重量 |
| 控制精度 | 溫度波動(dòng)范圍 | ±1℃ | 影響測(cè)試可重復(fù)性 |
| 分辨率 | 溫度顯示最小單位 | ℃ | 微調(diào)參數(shù)需求 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 | 動(dòng)態(tài)過(guò)程監(jiān)測(cè) |
| 安全聯(lián)鎖 | 過(guò)溫/過(guò)壓保護(hù) | 自動(dòng)斷電 | 防止設(shè)備或試樣損壞 |
| 廠商/型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積(L) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | 價(jià)格(萬(wàn)元) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安LH-120 | 室溫~150℃ | 無(wú) | 1200 | ±1℃ | GB/T 4857 | 數(shù)據(jù)追溯 | 18~22 |
| 林頻LP-80 | 室溫~130℃ | 無(wú) | 800 | ± ℃ | ISTA 3A | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 | 15~18 |
| ESPEC EHS-200 | 室溫~180℃ | 可選 | 2000 | ± ℃ | ASTM D4169 | 多段編程 | 35~40 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度超調(diào) | PID參數(shù)失調(diào) | 重新自整定PID |
| 壓力顯示異常 | 傳感器松動(dòng) | 緊固接線并校準(zhǔn) |
| 加熱管不工作 | 固態(tài)繼電器損壞 | 更換同型號(hào)繼電器 |
| 箱門漏氣 | 密封條老化 | 更換硅膠密封條 |
維護(hù)周期:
Q1:高溫堆碼試驗(yàn)箱能否同時(shí)進(jìn)行濕度控制?
A:標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備通常無(wú)濕度功能,需選擇帶加濕模塊的型號(hào)(如ESPEC EHS-200),但濕度可能影響堆碼測(cè)試結(jié)果,需根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)確認(rèn)是否需要。
Q2:如何判斷測(cè)試數(shù)據(jù)是否有效?
A:對(duì)比設(shè)備校準(zhǔn)報(bào)告中的精度參數(shù),若測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)超過(guò)±1℃或壓力偏差>5%,則數(shù)據(jù)無(wú)效,需重新校準(zhǔn)設(shè)備。
Q3:低價(jià)設(shè)備與高價(jià)設(shè)備的核心差異是什么?
A:低價(jià)設(shè)備可能采用開環(huán)控制(精度±3℃)、無(wú)安全聯(lián)鎖,而高價(jià)設(shè)備使用閉環(huán)PID控制、具備數(shù)據(jù)追溯及遠(yuǎn)程監(jiān)控功能。
Q4:測(cè)試中試樣變形量超標(biāo)怎么辦?
A:立即停止測(cè)試,檢查試樣封裝是否合規(guī),確認(rèn)設(shè)備參數(shù)是否與標(biāo)準(zhǔn)一致,必要時(shí)重新設(shè)計(jì)包裝結(jié)構(gòu)。
Q5:設(shè)備壽命一般多久?
A:正常使用下(每日運(yùn)行≤8h)為8~10年,關(guān)鍵部件(如加熱管)需每3年更換。
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