當(dāng)前8位客服在線
咨詢(xún)電話(huà)：15377736292 咨詢(xún)電話(huà)：15377736292 
隆安
2025-11-19 10:05:52
435
老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷(xiāo)價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢(xún)
湖北芯片測(cè)試試驗(yàn)箱選型需聚焦高溫老化測(cè)試需求，優(yōu)先核查設(shè)備溫度范圍、控制精度、安全聯(lián)鎖及標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性。推薦通過(guò)技術(shù)協(xié)議明確負(fù)載能力、采樣率等核心參數(shù)，結(jié)合FAT/SAT驗(yàn)收與計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)避風(fēng)險(xiǎn)。
| 核心問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| 湖北哪家廠商技術(shù)可靠？ | 隆安電子、華測(cè)檢測(cè)、武漢高德（需核查標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性及案例） |
| 關(guān)鍵選型參數(shù)是什么？ | 溫度范圍（-70℃~300℃）、控制精度±1℃、負(fù)載能力≥500W、安全聯(lián)鎖（過(guò)溫保護(hù)） |
| 典型價(jià)格區(qū)間？ | 基礎(chǔ)型8萬(wàn)~15萬(wàn)，高精度型25萬(wàn)~50萬(wàn)（依配置浮動(dòng)） |
| 必須符合哪些標(biāo)準(zhǔn)？ | GB/T 、IEC 60068-2-2、AEC-Q100（汽車(chē)芯片需額外符合） |
| 常見(jiàn)故障如何排查？ | 溫度波動(dòng)超標(biāo)→檢查加熱管；過(guò)載報(bào)警→降低試樣功率密度 |
芯片高溫老化測(cè)試旨在模擬長(zhǎng)期工作溫升，加速潛在缺陷（如金屬遷移、氧化層擊穿）暴露。典型工況包括：
| 參數(shù) | 技術(shù)要求 | 適用標(biāo)準(zhǔn) |
|---|---|---|
| 溫度均勻性 | ≤±2℃（空載） | GB/T |
| 升溫速率 | ≥3℃/min（25℃→125℃） | IEC 60068-2-78 |
| 安全聯(lián)鎖 | 過(guò)溫/過(guò)流/開(kāi)門(mén)斷電三級(jí)保護(hù) | AEC-Q100-008（車(chē)規(guī)芯片強(qiáng)制） |
| 數(shù)據(jù)記錄 | 支持CSV格式導(dǎo)出，采樣間隔≤1秒 | ISO 17025（計(jì)量認(rèn)證要求） |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 |
|---|---|---|
| 分辨率 | 溫度控制最小調(diào)節(jié)單位 | ℃ |
| 負(fù)載率 | 試樣總功率/設(shè)備額定功率×100% | ≤80% |
| MTBF | 平均無(wú)故障工作時(shí)間（依據(jù)IEC 62304計(jì)算） | ≥5000小時(shí) |
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項(xiàng) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安電子 | -70℃~300℃ | 10%~98%RH | 100L~1000L | ± ℃ | GB/T 2423、AEC-Q100 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控APP、自動(dòng)校準(zhǔn)功能 |
| 華測(cè)檢測(cè) | -40℃~180℃ | 20%~95%RH | 50L~500L | ±1℃ | IEC 60068、ISO 17025 | 獨(dú)立風(fēng)道設(shè)計(jì)、應(yīng)急停機(jī)按鈕 |
| 武漢高德 | -60℃~200℃ | 15%~90%RH | 80L~800L | ± ℃ | MIL-STD-810G、GJB 150A | 防爆認(rèn)證、多語(yǔ)言操作界面 |
Q1：如何判斷設(shè)備控制精度是否達(dá)標(biāo)？
A：要求廠商提供第三方校準(zhǔn)證書(shū)（如CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室），現(xiàn)場(chǎng)用多點(diǎn)溫度記錄儀（分辨率 ℃）驗(yàn)證空載/滿(mǎn)載工況。
Q2：車(chē)規(guī)級(jí)芯片測(cè)試需增加哪些配置？
A：需符合AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)，增加煙霧報(bào)警、急停按鈕、數(shù)據(jù)加密傳輸模塊。
Q3：設(shè)備故障率高的常見(jiàn)原因？
A：加熱管老化（占45%）、傳感器偏移（30%）、過(guò)載運(yùn)行（25%）。
Q4：試驗(yàn)箱容積如何選擇？
A：按公式計(jì)算：容積≥（試樣板面積× ）/設(shè)備有效利用率（通常取 ~ ）。
Q5：是否需要獨(dú)立風(fēng)道設(shè)計(jì)？
A：高功率密度測(cè)試（＞5W/cm2）必須采用，否則溫場(chǎng)均勻性可能超標(biāo)。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請(qǐng)您向我說(shuō)明測(cè)試要求，我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
< 上一篇：南通新一代高低溫堆碼試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)
下一篇：青海高溫老化房加工廠家 >?>
瀏覽更多不如直接提問(wèn)99%用戶(hù)選擇
顏總
隆安產(chǎn)品
