

隆安
2025-11-24 09:12:34
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芯片失效的“隱形殺手”:溫度波動
硅基芯片在-55℃至150℃的極端溫度下,可能面臨材料膨脹收縮、焊點脆化、參數漂移等問題。例如,消費電子設備在北方冬季戶外使用時,芯片可能因低溫啟動失敗;而車載芯片在夏季暴曬后,內部溫度可能突破設計極限。
行業強制標準驅動測試需求
根據JEDEC標準(JESD22-A104),芯片需通過高低溫循環測試(如-40℃至125℃間循環1000次)以驗證可靠性。軍工、汽車電子等領域更要求通過MIL-STD-810G等嚴苛認證,高低溫試驗箱成為必選設備。
1. 溫度控制精度:決定測試有效性
場景化定制能力
針對不同行業需求,隆安提供三類解決方案:
能效與成本平衡
隆安試驗箱通過以下設計降低使用成本:
1. 明確測試需求
2. 評估設備性能
3. 考察供應商實力
隨著AIoT技術發展,隆安試驗設備推出智能高低溫試驗箱,集成以下功能:
在芯片國產化浪潮下,高低溫試驗箱已成為保障產品質量的核心基礎設施。隆安試驗設備憑借20年技術積累,持續為半導體行業提供高精度、高可靠性的測試解決方案,助力中國“芯”突破技術壁壘。
因老化試驗設備參數各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術方案
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