

隆安
2025-11-26 14:08:21
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THT試驗箱是高溫老化環境測試的核心設備,選型需重點關注溫度范圍、控制精度、負載能力及安全聯鎖設計。工程師需結合標準(如IEC 60068-2-2、GB/T )與實際工況,通過參數對比、驗收清單及采購流程管控,規避低價陷阱與性能虛標風險。
表1:THT試驗箱關鍵參數定義
| 參數 | 定義 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 箱內可穩定運行的最低至最高溫度 | -20℃~300℃ |
| 溫度均勻性 | 箱內各點與設定值的最大偏差 | ≤±2℃(空載) |
| 負載能力 | 箱內可承載的最大試樣重量 | 50~500kg |
| 控制方式 | 伺服控制(動態響應快) vs PID控制(成本低) | 伺服優先 |
| 采樣率 | 溫度傳感器數據采集頻率 | ≥1次/秒 |
| 安全聯鎖 | 超溫、過流、門鎖異常等保護機制 | 必備 |
典型工況:電子元件高溫老化(125℃/48h)、汽車線束耐熱測試(150℃/24h)、軍工產品熱沖擊(-40℃~150℃循環)。
步驟1:明確測試需求
步驟2:參數匹配表
| 需求場景 | 優先級參數 | 示例標準 |
|---|---|---|
| 電子元件老化 | 溫度均勻性、負載能力 | IEC 60068-2-2 |
| 汽車零部件測試 | 溫度范圍、升溫速率 | GB/T |
| 軍工產品驗證 | 安全聯鎖、循環次數 | GJB |
步驟3:詢價模板
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安科技 | -20℃~300℃ | 10%~95%RH | ~2m3 | ± ℃ | IEC 60068-2-2, GB/T 2423 | 遠程監控、數據追溯 |
| 泰格環境 | -40℃~200℃ | 無濕度 | ~ 3 | ±1℃ | GB/T | 應急停機按鈕 |
| 賽默飛世爾 | RT~250℃ | 20%~80%RH | ~3m3 | ± ℃ | ASTM D573 | 多語言界面 |
表2:常見故障與解決方案
| 故障現象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 升溫緩慢 | 加熱管老化、風道堵塞 | 更換加熱管,清潔風道濾網 |
| 溫度超調 | PID參數失調、傳感器偏差 | 重新整定PID,校準溫度傳感器 |
| 安全聯鎖觸發 | 門鎖未關緊、超溫保護 | 檢查門鎖,降低設定溫度 |
維護周期表
Q1:THT試驗箱與HAST試驗箱的區別?
A1:THT(高溫試驗)側重長期耐熱性,溫度≤300℃;HAST(高壓加速老化)通過高溫高濕(130℃/85%RH/2atm)縮短測試周期,適用于半導體封裝。
Q2:如何驗證溫度均勻性?
A2:按IEC 60068-2-2要求,在空載狀態下布置9個測溫點(中心及四角),運行至穩定狀態后記錄1h數據,計算最大偏差。
Q3:低價設備可能存在哪些隱患?
A3:溫度均勻性虛標(實際偏差>±5℃)、安全聯鎖缺失、加熱管功率不足導致升溫失敗。
Q4:伺服控制與PID控制的差異?
A4:伺服控制通過編碼器反饋實時調整,溫度波動<± ℃;PID控制依賴經驗參數,波動可能達±2℃。
Q5:是否需要配置濕度功能?
A5:若測試標準包含濕熱交替(如GB/T ),需選擇溫濕度一體機;純高溫測試可省去濕度模塊。
因老化試驗設備參數各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術方案
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