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隆安
2025-12-03 09:15:19
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隆安老化設備25生產廠家直銷價格，品質售后雙保障，廠家直供價更優！ 馬上咨詢
芯片輸入口方向的錯誤配置可能導致信號傳輸異常、測試數據失真甚至設備故障。例如：
典型場景：某電子廠使用隆安試驗設備進行芯片高溫老化測試時，因未調整輸入方向，導致批量產品測試數據異常，最終排查發現是信號線接反。
試驗箱的芯片輸入口通常分為模擬輸入（AI）和數字輸入（DI）兩類，方向調整需結合接口類型操作：
操作提示：使用萬用表測量接口電壓，模擬輸入口典型范圍為0-10V或4-20mA，超出范圍需加裝信號調理模塊。
現代試驗箱（如隆安試驗設備的LAC系列）均配備觸控屏或上位機軟件，輸入方向調整可通過以下路徑完成：
案例：某客戶反饋隆安試驗設備溫度采樣偏差大，技術人員遠程指導其將AI2通道方向從“反向”改為“正向”后，數據立即恢復正常。
若調整后仍出現異常，需檢查設備固件版本：
數據支撐：隆安試驗設備技術團隊統計顯示，70%的輸入方向問題可通過固件升級解決。
作為國內老化測試設備領軍品牌，隆安試驗設備在芯片輸入方向調整上具備三大優勢：
用戶見證：某半導體企業使用隆安試驗設備后，芯片老化測試效率提升30%，因輸入方向錯誤導致的返工率降至 %以下。
因老化試驗設備參數各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術方案
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