225高低溫試驗(yàn)箱報(bào)價(jià),225試驗(yàn)箱價(jià)格全解析

隆安
2025-12-05 13:46:37
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內(nèi)容摘要：225高低溫試驗(yàn)箱報(bào)價(jià)受容積、溫度范圍、控制精度等核心參數(shù)影響，基礎(chǔ)款約8-15萬元，高端款可達(dá)25萬元以上。選型需明確負(fù)載類型、試樣尺寸、測試標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 2423...

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225高低溫試驗(yàn)箱報(bào)價(jià)受容積、溫度范圍、控制精度等核心參數(shù)影響，基礎(chǔ)款約8-15萬元，高端款可達(dá)25萬元以上。選型需明確負(fù)載類型、試樣尺寸、測試標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 2423、IEC 60068），優(yōu)先選擇符合ISO 17025校準(zhǔn)規(guī)范且具備安全聯(lián)鎖功能的設(shè)備。采購需通過技術(shù)協(xié)議鎖定參數(shù)，驗(yàn)收時(shí)重點(diǎn)核查溫度均勻性、波動度及安全聯(lián)鎖響應(yīng)時(shí)間。

快速答案卡片

核心參數(shù)	典型值	對報(bào)價(jià)影響
容積	225L（600×500×750mm）	容積每增加50%，價(jià)格上升30%-50%
溫度范圍	-70℃~+150℃	超低溫（-70℃以下）每降低10℃，成本增加15%
控制精度	±0.5℃（均勻性±2℃）	精度每提升0.1℃，價(jià)格上升8%-12%
安全聯(lián)鎖	超溫/過載/漏電保護(hù)	標(biāo)配安全功能不額外收費(fèi)，定制聯(lián)鎖需加價(jià)5%-8%

選型決策流程

明確測試需求：
- 試樣尺寸：長×寬×高≤550×450×700mm（留10%余量）
- 負(fù)載類型：電子元件（輕載）/金屬部件（重載）
- 測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1（低溫）/GB/T 2423.2（高溫）

核心參數(shù)篩選：

參數(shù)	基礎(chǔ)款	高端款
溫度范圍	-40℃~+120℃	-70℃~+180℃
升溫速率	3℃/min	5℃/min（可選8℃/min）
控制方式	PID微電腦	伺服閉環(huán)控制

詢價(jià)模板：

致[廠商名稱]：
需采購225L高低溫試驗(yàn)箱，要求：
1. 溫度范圍：-70℃~+150℃
2. 均勻性：≤±2℃
3. 負(fù)載能力：50kg金屬試樣
4. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1/2-2
請?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報(bào)價(jià)及交貨期。

技術(shù)參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)解析

關(guān)鍵參數(shù)定義

參數(shù)	定義	失效機(jī)理關(guān)聯(lián)
溫度均勻性	工作空間內(nèi)各點(diǎn)溫差	溫差＞3℃可能導(dǎo)致電子元件熱應(yīng)力開裂
波動度	設(shè)定值與實(shí)際值偏差	波動＞1℃影響材料熱膨脹系數(shù)測試
采樣率	數(shù)據(jù)采集頻率	低采樣率（＜1次/秒）無法捕捉瞬態(tài)過溫

適用標(biāo)準(zhǔn)邊界

包裝測試：ISTA 3A標(biāo)準(zhǔn)要求試驗(yàn)箱具備快速溫變能力（5℃/min）
軍工產(chǎn)品：GJB 150.3A規(guī)定低溫測試需持續(xù)48小時(shí)，均勻性≤±1.5℃
汽車電子：AEC-Q100要求高溫存儲測試（125℃）連續(xù)1000小時(shí)

主流型號對比表

廠商	型號	溫度范圍	控制精度	附加特性	報(bào)價(jià)（萬元）
上海XX	TH-225A	-40℃~+120℃	±1℃	RS485通信	8.5
廣州XX	GD-225B	-70℃~+150℃	±0.5℃	伺服控制+超溫報(bào)警	15.8
重慶XX	LW-225C	-80℃~+180℃	±0.3℃	液氮輔助制冷	24.2