

隆安
2025-12-10 09:09:54
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價更優(yōu)! 馬上咨詢
主板老化房定制需綜合考量溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力等核心參數(shù),優(yōu)先選擇符合GB/T 2423.2-2008、IEC 60068-2-2標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備。采購流程應(yīng)包含需求確認(rèn)、技術(shù)協(xié)議簽訂、FAT/SAT驗收等關(guān)鍵環(huán)節(jié),避免因選型不當(dāng)或維護(hù)缺失導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)失真或設(shè)備故障。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 主板老化房溫度范圍 | 通常40℃~150℃,部分場景可達(dá)180℃ |
| 關(guān)鍵選型參數(shù) | 溫度均勻性±2℃、負(fù)載容量≥5kW/m3、控制精度±1℃ |
| 推薦標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423.2-2008、IEC 60068-2-2 |
| 核心故障點 | 加熱管老化、傳感器漂移、循環(huán)風(fēng)機卡滯 |
| 維保周期 | 每3個月校準(zhǔn)傳感器,每年更換循環(huán)風(fēng)機軸承 |
| 步驟 | 關(guān)鍵動作 | 驗證方法 |
|---|---|---|
| 1 | 確定測試工況 | 提供主板規(guī)格書、測試大綱 |
| 2 | 初選3家廠商 | 核查營業(yè)執(zhí)照、專利證書 |
| 3 | 技術(shù)協(xié)議評審 | 核對溫度曲線、負(fù)載參數(shù) |
| 4 | FAT驗收 | 現(xiàn)場測試溫度均勻性、波動度 |
| 5 | SAT驗收 | 模擬實際工況運行72小時 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 失效影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作區(qū)內(nèi)最大溫差 | ±2℃ | 導(dǎo)致主板局部過熱 |
| 溫度波動度 | 1小時內(nèi)溫度變化幅度 | ±0.5℃ | 影響老化測試一致性 |
| 升溫速率 | 室溫到設(shè)定溫度時間 | 5℃/min | 延長測試周期 |
| 負(fù)載容量 | 單位體積發(fā)熱量 | ≥5kW/m3 | 引發(fā)溫度失控 |
| 控制方式 | PID/模糊控制 | PID+SSR | 導(dǎo)致超調(diào)或振蕩 |
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| 隆安實驗 | RT+10℃~180℃ | 20%~95%RH | 0.5~10m3 | ±0.5℃ | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| 環(huán)儀儀器 | RT~150℃ | 不控濕 | 1~5m3 | ±1℃ | 數(shù)據(jù)追溯 |
| 偉思實驗 | RT+5℃~160℃ | 30%~80%RH | 0.8~8m3 | ±0.8℃ | 應(yīng)急停機 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度升速慢 | 加熱管老化 | 更換U型加熱管(功率密度≥3W/cm2) |
| 溫度波動大 | SSR接觸不良 | 檢查固態(tài)繼電器輸出端子 |
| 超溫報警 | 傳感器偏移 | 用標(biāo)準(zhǔn)溫度計校準(zhǔn)(需NIST認(rèn)證) |
| 項目 | 周期 | 操作內(nèi)容 |
|---|---|---|
| 傳感器校準(zhǔn) | 每3個月 | 使用Fluke 754校準(zhǔn)儀 |
| 風(fēng)機保養(yǎng) | 每6個月 | 清理風(fēng)葉積塵,更換軸承 |
| 加熱管檢測 | 每年 | 測量電阻值(偏差≤5%) |
致:XXX公司
我方需定制主板老化房,要求如下:
1. 溫度范圍:RT~150℃(控制精度±1℃)
2. 負(fù)載容量:≥8kW(測試區(qū)尺寸2m×1.5m×1.2m)
3. 數(shù)據(jù)接口:支持Modbus TCP協(xié)議
4. 安全功能:超溫斷電、門鎖互鎖
請于3個工作日內(nèi)提供技術(shù)方案及報價單。
消費級主板通常采用70℃~100℃老化,依據(jù)IPC-9701標(biāo)準(zhǔn),該溫度范圍可有效激活焊點虛焊、電容漏液等早期失效模式。需注意芯片結(jié)溫限制(如Intel CPU結(jié)溫≤105℃)。
首先檢查SSR(固態(tài)繼電器)輸出端子是否氧化,其次驗證PID參數(shù)設(shè)置(建議P=50~80,I=300~600秒,D=10~30秒)。若問題持續(xù),需更換溫度傳感器(推薦Pt100鉑電阻)。
根據(jù)GJB 150.3A標(biāo)準(zhǔn),軍用設(shè)備需在85℃/85%RH條件下測試。但消費級主板通常僅需控溫,濕度過高可能導(dǎo)致PCB吸潮引發(fā)電遷移失效。
依據(jù)GB/T 2423.2-2008,必須測試:1)溫度均勻性(工作區(qū)任意兩點溫差≤2℃);2)溫度波動度(1小時內(nèi)≤±0.5℃);3)超溫保護(hù)功能(觸發(fā)值≤設(shè)定值+2℃)。
采用304不銹鋼護(hù)套加熱管,功率密度控制在2~3W/cm2。每日運行結(jié)束后,應(yīng)先關(guān)閉加熱再停風(fēng)機,避免局部過熱。建議每2000小時更換一次加熱管。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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